光轴的高精度管理！ 3σ≦0.02°
低相位差测量

产品信息

特 点

可测从0nm开始的低（残留）相位差
光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于世界最快速的0.1秒以下来处理）
无驱动部，重复再现性高
设置的测量项目少，测量简单
测量波长除了550nm以外，还有各种波长
Rth测量、全方位角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
 (本系统属特注。）

测量项目

相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
主轴方位角（θ[deg.]）
椭圆率（ε）方位角（γ）
三次元折射率（NxNyNz）

用　途

位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）

原　理

什么是RE-200
RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。

仕　样

 Option
Rth测量、全方位角测量※治具本体（旋转：180°, 倾斜：±50°）
动旋转倾斜治具