光轴的高精度管理! 3σ≦0.02°
低相位差测量
产品信息
特 点
可测从0nm开始的低(残留)相位差
光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
(相当于世界最快速的0.1秒以下来处理)
无驱动部,重复再现性高
设置的测量项目少,测量简单
测量波长除了550nm以外,还有各种波长
Rth测量、全方位角测量
(需要option的自动旋转倾斜治具
通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。)
测量项目
相位差(ρ[deg.], Re[nm])
主轴方位角(θ[deg.])
椭圆率(ε)方位角(γ)
三次元折射率(NxNyNz)
用 途
位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
树脂、玻璃等透明、非均质材料(玻璃有变形,歪曲等)
原 理
什么是RE-200
RE-200是光子结晶素子(偏光素子)、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合,可高速且高精度的测量位相差(相位差)、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式,没有偏光子旋转的机构,系统整体上是属于小型构造,长时间使用也能维持稳定的性能。
仕 样
型号 | RE series |
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样品尺寸 | 最小10×10mm ~最大100×100mm |
测量波长 | 550nm (标准仕样)※1 |
相位差测量范围 | 约0nm ~约1μm |
轴检出重复精度 | 0.05°(at 3σ) ※2 |
检出器 | 偏光计测模块 |
测量光斑直径 | 2.2mm×2.2mm |
光源 | 100W 卤素灯或 LED光源 |
本体重量 | 300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、约20kg |
Option
Rth测量、全方位角测量※治具本体(旋转:180°, 倾斜:±50°)
动旋转倾斜治具