结晶成长膜的厚度(OPTM系列和SF-3)


评估是否形成了所需厚度的晶体生长层是非常重要的。 如果厚度存在偏差,则产品可能发生不良或者出现无法满足所需性能等的问题。而光学干涉膜厚度测量,可以进行非接触、非破坏性、高精度测量,特别适用于评估膜厚


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